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  • 双层加速寿命试验机
    双层加速寿命试验机

    特点

    1. 高效的双箱体设计,海拓先进的HAST设备集高温高湿85℃85%RH、PCT、HAST功能于一体

    2. 程式/定值模式可相互切换

    3. 采用海拓研发订制的控制器,彩色10寸LCD显示屏内容丰富,具有多种功能

    4. 圆型内箱,SUS316L不锈钢(表面电解抛光)圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计

    5.  packing 设计使门与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing 寿命

    6. 独立蒸汽发生室,避免蒸汽直接冲击产品,以免造成产品局部破坏

    7. 快速排气模式,试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性

    8. 超长效实验运转时间,长时间实验机台运转 400 小时.

    9.  内置的供水罐子,高效的自动供水系统,并确保测试后的热水给内置冷却箱冷却后排出

    10. 可连接Mes系统,让可靠性测试纳入客户的工工艺制程中,也可同时接入海拓,运行历史记录存储,数据更安全

    11. 拥有自主的发明专利,专利号:ZL 2021 1 1559237.X


  • HAST加速寿命试验机
    HAST加速寿命试验机

    特点

    加速寿命试验机(HAST)广泛应用于集成电路/微电子/IC等领域,其试验目的是提高环境应力,如温度与工作应力施加给产品的电压/负荷等,加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析被测试样品何时出现的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障。分布函数呈现什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。


  • 双层HAST
    双层HAST

    特点

    1. 高效的双箱体设计,海拓先进的HAST设备集高温高湿85℃85%RH、PCT、HAST功能于一体

    2. 程式/定值模式可相互切换

    3. 采用海拓研发订制的控制器,彩色10寸LCD显示屏内容丰富,具有多种功能

    4. 圆型内箱,SUS316L不锈钢(表面电解抛光)圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计

    5.  packing 设计使门与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing 寿命

    6. 独立蒸汽发生室,避免蒸汽直接冲击产品,以免造成产品局部破坏

    7. 快速排气模式,试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性

    8. 超长效实验运转时间,长时间实验机台运转 400 小时.

    9.  内置的供水罐子,高效的自动供水系统,并确保测试后的热水给内置冷却箱冷却后排出

    10. 可连接Mes系统,让可靠性测试纳入客户的工工艺制程中,也可同时接入海拓,运行历史记录存储,数据更安全

    11. 拥有自主的发明专利,专利号:ZL 2021 1 1559237.X



  • NAND FLASH高低温筛选设备机柜
    NAND FLASH高低温筛选设备机柜
    型号 HESS-465-60-3F-1.3KW
    容量 1-200颗
    尺寸 L185cm*W87.5cm*H183cm
    工作温度 -40℃~+85℃
    产品概述 可同时测试1~200颗芯片,宽温测试、可同时测25种不同颗粒
    支持测试命令类型 基础测试
    支持测试范围可选 起始测试块数、块间间隔、循环数、测试时间等个性化设置
    已支持闪存协议类型 ONFI/toggle接口颗粒
    已支持测试封装规格 BGA152、BGA132(可定制扩展)
    支持pattern 全0,全1,全5,伪随机;棋盘格;字线随机等
    Operating temperature range 宽温测试、可同时测25种不同颗粒


  • NAND Flash高低温筛选设备机柜
    NAND Flash高低温筛选设备机柜
    型号 HESS-465-60-3F-1.3KW
    容量 1-200颗
    尺寸 L185cm*W87.5cm*H183cm
    工作温度 -40℃~+85℃
    产品概述 可同时测试1~200颗芯片,宽温测试、可同时测25种不同颗粒
    支持测试命令类型 基础测试
    支持测试范围可选 起始测试块数、块间间隔、循环数、测试时间等个性化设置
    已支持闪存协议类型 ONFI/toggle接口颗粒
    已支持测试封装规格 BGA152、BGA132(可定制扩展)
    支持pattern 全0,全1,全5,伪随机;棋盘格;字线随机等
    Operating temperature range 宽温测试、可同时测25种不同颗粒


  • 接触式局部快速温变仪
    接触式局部快速温变仪

    接触式高低温设备是以色列Mechanical Devices公司研发的针对芯片可靠性测试的专用设备,通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递,与传统气流式高低温设备(热流仪、温箱等)相比具有升降温效率高,操作简单方便,体积小巧,噪音低等特点。


    CTC温度系统提供一种高度敏感,热传感路径,快速感应温度到DUT上。这种高可靠的系统使用一个专利的温度探头与被测的IC或其他器件直接连接,使用强力制冷技术进行温度循环测试,不用担心制冷能力不足。


    CTC通过一个温度探头与过孔或表贴DUT直接连接,温度加压系统可以模拟DUT达到预计的温度,范围从-70℃~150℃。CTC通过一个热盘,可以用来同时测量多个DUT。 它可以集成到探头工作站、处理机、测试仪和系统。 CTC是一个独立的、仅需通电即可操作的系统,只需要提供交流电和纯净的干燥空气,用于低温测试中防止冷凝的发生。


    可以测试任何集成电路、单块集成电路方面的 IC、芯片、微芯片、CPU、无线、高功率开关器件,包括硅晶圆和电子、半导体和电子器件。适合在电磁干扰环境下进行环境(高低温)测试。




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