特点

1. 高效的双箱体设计，海拓先进的HAST设备集高温高湿85℃85%RH、PCT、HAST功能于一体

2. 程式/定值模式可相互切换

3. 采用海拓研发订制的控制器，彩色10寸LCD显示屏内容丰富，具有多种功能

4. 圆型内箱,SUS316L不锈钢（表面电解抛光）圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计

5.  packing 设计使门与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing 寿命

6. 独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏

7. 快速排气模式，试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性

8. 超长效实验运转时间，长时间实验机台运转 400 小时.

9.  内置的供水罐子，高效的自动供水系统，并确保测试后的热水给内置冷却箱冷却后排出

10. 可连接Mes系统,让可靠性测试纳入客户的工工艺制程中，也可同时接入海拓，运行历史记录存储，数据更安全

11. 拥有自主的发明专利，专利号：ZL 2021 1 1559237.X

特点

加速寿命试验机（HAST）广泛应用于集成电路/微电子/IC等领域，其试验目的是提高环境应力，如温度与工作应力施加给产品的电压/负荷等，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析被测试样品何时出现的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障。分布函数呈现什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

接触式高低温设备是以色列Mechanical Devices公司研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。

CTC温度系统提供一种高度敏感，热传感路径，快速感应温度到DUT上。这种高可靠的系统使用一个专利的温度探头与被测的IC或其他器件直接连接，使用强力制冷技术进行温度循环测试，不用担心制冷能力不足。

CTC通过一个温度探头与过孔或表贴DUT直接连接，温度加压系统可以模拟DUT达到预计的温度，范围从-70℃～150℃。CTC通过一个热盘，可以用来同时测量多个DUT。 它可以集成到探头工作站、处理机、测试仪和系统。 CTC是一个独立的、仅需通电即可操作的系统，只需要提供交流电和纯净的干燥空气，用于低温测试中防止冷凝的发生。

可以测试任何集成电路、单块集成电路方面的 IC、芯片、微芯片、CPU、无线、高功率开关器件，包括硅晶圆和电子、半导体和电子器件。适合在电磁干扰环境下进行环境（高低温）测试。

可定制尺寸

产品广泛应用于数通模块三温测试、电子特性测试和故障分析。产品独具匠心，设计精巧，节省空间，无需消耗耗材及压缩机，高效节能

特点：

1. 7‘’ 大屏幕设计，触控灵敏

2. 防凝露测试罩，保证产品测试安全

3. 设备支持多种通讯接口，本地以及远程控制（LAN/RS232/RS485）

4. 多种控温模式，选择更加灵活