线性15度快速温变试验箱广泛应用于汽车、IC、分立器件等行业，对试品在拟定条件下的性能作出分析及评估。本测试箱满足汽车电子标准：AECQ100以及JESD22A104F行业测试标准
温度范围与测试曲线
广泛应用于5G通信、半导体、芯片、传感器等领域。在最短的时间内检测样品，减少测试和验证时间，快速提高产品研发和生产效率，降低能耗。温度范围：-85℃~300℃,升温速率：-40℃~+85℃ 约10S,降温速率：+85℃~-40℃ 约10S
特点
1 节能设计 2 噪音低，大约 65 分贝 3 自主研发的控制系统，控温精确 4 大屏触控，操作方便 5长久低温运行无结霜 6 支持多种通讯接口 7支持本地/远程控制 8 支持空气/DUT 温度切换
接触式高低温设备是海拓自主研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。
CTC温度系统提供一种高度敏感，热传感路径，快速感应温度到DUT上。这种高可靠的系统使用一个专利的温度探头与被测的IC或其他器件直接连接，使用强力制冷技术进行温度循环测试，不用担心制冷能力不足。
CTC通过一个温度探头与过孔或表贴DUT直接连接，温度加压系统可以模拟DUT达到预计的温度，范围从-70℃～150℃。CTC通过一个热盘，可以用来同时测量多个DUT。 它可以集成到探头工作站、处理机、测试仪和系统。 CTC是一个独立的、仅需通电即可操作的系统，只需要提供交流电和纯净的干燥空气，用于低温测试中防止冷凝的发生。
可以测试任何集成电路、单块集成电路方面的 IC、芯片、微芯片、CPU、无线、高功率开关器件，包括硅晶圆和电子、半导体和电子器件。适合在电磁干扰环境下进行环境（高低温）测试。
特点
加速寿命试验机（HAST）广泛应用于集成电路/微电子/IC等领域，其试验目的是提高环境应力，如温度与工作应力施加给产品的电压/负荷等，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析被测试样品何时出现的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障。分布函数呈现什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
特点
1. 高效的双箱体设计，海拓先进的HAST设备集高温高湿85℃85%RH、PCT、HAST功能于一体
2. 程式/定值模式可相互切换
3. 采用海拓研发订制的控制器，彩色10寸LCD显示屏内容丰富，具有多种功能
4. 圆型内箱,SUS316L不锈钢（表面电解抛光）圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计
5. packing 设计使门与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing 寿命
6. 独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏
7. 快速排气模式，试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性
8. 超长效实验运转时间，长时间实验机台运转 400 小时.
9. 内置的供水罐子，高效的自动供水系统，并确保测试后的热水给内置冷却箱冷却后排出
10. 可连接Mes系统,让可靠性测试纳入客户的工工艺制程中，也可同时接入海拓，运行历史记录存储，数据更安全
11. 拥有自主的发明专利，专利号：ZL 2021 1 1559237.X
广泛应用于5G通信、半导体、芯片、传感器等领域。在最短的时间内检测样品，减少测试和验证时间，快速提高产品研发和生产效率，降低能耗。温度范围：-80℃~220℃,升温速率：-40℃~+85℃ 约10S,降温速率：+85℃~-40℃ 约10S
特点
1.获得国家专利，专利号：ZL201720299615.8
2.自主研发HAITUO控制系统，控温精准
3大屏显示10”TFT大彩屏，触控灵敏
4.防凝露测试罩，产品测试更安全
5多种控温形式，选择更灵活
6.低功耗节能达30%以上
7.可长久低温运行
English
