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    Chronos 800G采样示波器

    Chronos 800G采样示波器将高精度时钟数据恢复(CDR)与超低噪声光采样示波器深度融合,专为高速光模块、光器件及背板发射机信号完整性评估而设计。

  • 800G四通道三温误码测试系统
    800G四通道三温误码测试系统

    800G四通道三温误码测试系统是面向高速光模块及线缆测试的高集成度解决方案。系统将多协议误码分析模块、可插拔 MCB 测试板、双面 TEC 液冷温控平台有机结合,支持 400G/800G OSFP、OSFP-RHS、QSFP112、QSFP-DD 等主流封装模块的全温区全自动测试。

  • 1.6T双通道三温误码测试系统
    1.6T双通道三温误码测试系统

    1.6T双通道三温误码测试系统专为多通道PAM4与NRZ应用场景设计,单通道信号速率高达106.25Gbd,全面满足1.6T/800G光模块的研发与测试需求。该设备采用误码仪板与MCB板一体化集成方案,内置TEC半导体制冷及水冷温控系统,支持模块DDM温度在0~70℃范围内精准测试。产品具备即插即用特性,可快速部署于研发及生产测试环节。发射端集成预加重调节功能,支持对PAM4信号进行眼图整形优化;接收端内置均衡与FEC纠错能力,并提供数据图形分析功能。同时,该方案也为高速光收发模块的自动化生产测试提供了高效可靠的解决路径。


  • 接触式快温变仪
    接触式快温变仪

    体积小:省空间、省成本

    操作简单:插电即用,无需外部冷却系统

    安全可靠:系统无液体,无泄露风险,防静电

    接触式设计:导热模块接触被测物表面,保障高效热传导

    高精度控温:采用PID算法或先进温控模块,控温精确

    编程控制:通过软件预设温度曲线,实现全自动测试流程

    过温保护:自动检测异常并切断电源,防止样品损坏

    防冷凝设计:低温测试时通过干燥气体以及密封结构避免结霜

    适配多种样品:支持不同尺寸和形状的测试对象(如芯片、PCB等)

    产线验证:可以集成到产线当中进行测试

  • 高加速寿命试验机/HAST
    高加速寿命试验机/HAST

    高效双箱体设计,采用进口耐高温电磁阀(采用固态继电器通断控制)双路结构,在一定程度上降低了使用故障率

    独立蒸汽发生室,避免蒸汽直接冲击产品,以免造成产品局部破坏

    门锁省力结构,解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点

    快速排气模式,试验前排冷空气、试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性

    超长效实验运转时间,长时间实验机台运转 400 小时

    水位保护,透过试验室内水位 Sensor 检知保护

    tank 耐压设计,箱体耐压力(150℃)2.65kg,符合水压测试 6kg

    二段式压力安全保护装置,采两段式结合控制器与机械式压力保护装置

    安全保护排压钮,警急安全装置二段式自动排压钮

  • 饱和加速寿命试验机/PCT
    饱和加速寿命试验机/PCT

    智慧型饱和蒸汽温度值,人力控制装置与饱和蒸汽压力检知

    白金温度传感器(PT-100型)感知精确温度

    圆形棋置式内箱结构设计,方便待测样品取置与蒸汽冲击隔离装置

    专利自动压力安全门闩锁控制装置

    采用顶级进口品牌配件,确保设备的高性能和稳定性

    整机设计美观大方,做工细节优良,提升使用体验

    大容量水箱设计,支持长时间试验

    进口高精度智能温控器,误差控制在±1.5℃,提高试验精度

    电路整合设计,操作简单便捷,维护方便

    真实读取传感器数据,准确显示试验参数

    精准的压力/温度对照显示,符合温湿度压力对照表要求

    配备多重安全保护装置,确保试验过程安全可靠

    支持数据记录、远程监控和导出,提供便捷的数据分析和管理

    设备采用高效真空泵,使箱内达到纯净饱和蒸汽状态

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