1.6T双通道三温误码测试系统

产品描述:

1.6T双通道三温误码测试系统专为多通道PAM4与NRZ应用场景设计,单通道信号速率高达106.25Gbd,全面满足1.6T/800G光模块的研发与测试需求。该设备采用误码仪板与MCB板一体化集成方案,内置TEC半导体制冷及水冷温控系统,支持模块DDM温度在0~70℃范围内精准测试。产品具备即插即用特性,可快速部署于研发及生产测试环节。发射端集成预加重调节功能,支持对PAM4信号进行眼图整形优化;接收端内置均衡与FEC纠错能力,并提供数据图形分析功能。同时,该方案也为高速光收发模块的自动化生产测试提供了高效可靠的解决路径。


分享到:
其他参数

PAM4速率支持:53.125GBaud/106.25GBaud

多码型选择:PRBS7/9/11/13/15/23/31/58、PRBS7~58Q、SSPRQ、User pattern等

发端支持预加重功能

收端支持均衡、SNR测试、眼图模拟分析

KP4 FEC 功能,Symbol Errors错误分布解析

支持内外IIC切换,开放光模块调试功能,用户可利用GUI进行模块寄存器操作

温控效率高,利用双面TEC设计

多码型选择:PRBS7/9/11/13/15/23/31/58、PRBS7~58Q、SSPRQ、User pattern等

TEC全方位防护,实时监控冷热面温差,结合算法提升使用寿命

创新型壳温监控,实现模块壳温实时反馈

端口独立水路循环,相互不受影响

支持温循场景使用